日立X射线荧光测厚仪参数
发布时间:2024-04-30 02:30
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- SFT-110
- X射线荧光镀层厚度测量仪
- 日本
- 2014年12月22日
- 测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)
- 检测器:比例计数管
- X射线源:空冷式小型X射线管(50kV、1mA)
- 准直器: O型:Φ0.1mm、Φ0.2mm
- 样品台: 250(X)×200(Y)×150(Z)mm
日立高新技术公司
- FT110A
- 日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
- Fluorescent X-ray (XRF) Coating Thickness Gauge FT110A
- 日本
- 2011年
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