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半导体参数仪

2021.8.31

  半导体参数仪是一种用于物理学领域的科学仪器,于2015年9月17日启用。

  4200-SCS/F半导体特性分析系统主机,2个高分辨率中功率SMU 最大电流100mA,最大电压200V,最大功率2W 4200-SMU高分辨率中功率SMU(源测量单元) 最大电流100mA;最大电压200V;最大功能2W;配置有4200-PA,扩展电流分辨率至0.1fA 4200-CVU C-V测试单元,扫描频率范围1KHZ-10MHz。

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