在美国分析化学仪器展览会上的X射线能谱仪
1984年3月5日至9日在美国大西洋城(Atlantic City)召开了有关分析化学的匹兹堡会议和展览会(Pittsburgh Conference and Exposition)。当时笔者正在美国,有机会参观了该展览会,着重观看了和电子显微镜配接的X射线能谱仪。会上展出了TN 5500、KEVEX 8000Ⅲ、PGT 4、ORTEC 5000、EDAX 9100/70、EXAC 2000等各种型号的能谱仪。从会上所展出的仪器来看,笔者认为X射线能谱仪正在进入一个新的发展阶段。为了证实上述看法,并进一步了解能谱仪的发展趋势,我们于3月30日又访问了在旧金山附近的TRACOR XRAY公司(TRACOR NORTHERN公司专门生产X射线仪器的一个分公司),在那里仔细观察了TN 5500 X射线能谱仪的操作,并和有关人员进行了技术讨论。笔者认为X射线能谱仪的发展已经历了两个阶段。在初期(1968～1975左右),探测器的分辨率不高,大都只使用多道分析器来存贮和处理能谱,分析精度不高,只能进行定性或 定量分析。
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