斐索干涉仪简介
斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。
干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路见图1，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射被观察透明物体，光线在物体上下表面间多次反射，并从反射方向S'处观察干涉条纹。光学工厂用这种千涉仪来检验透明平行平板的光学厚度的均匀性。
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斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。
干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路见图1，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射被观察透明物体，光线在物体上下表面间多次反射，并从反射方向S'处观察干涉条纹。光学工厂用这种千涉仪来检验透明平行平板的光学厚度的均匀性。
