CNS 5072-1988
单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–气密性试验
Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Sealing Test)
- 标准号
- CNS 5072-1988
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 台湾地方标准
- 当前最新
- CNS 5072-1988
- 适用范围
- 本标准规定单件半导体装置之封口气密性之试验方法。1.1 定义 1.1.1 计算漏气率：计算漏气率系指放置在高压边为 1 气压（101325 Pa），低压边为 1.33322×102 Pa 以下之场合，干燥空气于 25℃ 时每秒钟的漏气通过量。单位以 Pa．cm3∕s 表示。1.1.2 测定漏气率：测定漏气率系
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