CNS 5076-1988
单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–振动试验
Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Vibration Test)
- 标准号
- CNS 5076-1988
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 台湾地方标准
- 当前最新
- CNS 5076-1988
- 适用范围
- 本标准规定评估单件半导体在搬运中或使用中所耐振动程度之试验方法。
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