KS L 1619-2013(2023)
用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法

Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array

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标准号: KS L 1619-2013(2023)
发布: 2013年
发布单位: KR-KS
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根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：　　1）高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；　　2）球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；　　3）配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；　　4）高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...

高温四探针电阻率测试系统

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双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪

有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。...

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