KS L 1619-2013(2018)
四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法

Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array

被代替

四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS L 1619-2013(2018) 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: KS L 1619-2013(2018)
发布: 2013年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS L 1619-2013(2023)
当前最新: KS L 1619-2013(2023)

KS L 1619-2013(2018)相似标准

KS L 1619-2013(2023) 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法 JIS R 1637:1998 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法 GB/T 40007-2021 纳米技术纳米材料电阻率的接触式测量方法通则 GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法 KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

推荐

超低阻双电四探针测试仪的应用范围

超低阻双电四探针测试仪采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。...

根据不同材料特性需要，配有多款测试探头：　　1）高耐磨碳化钨探针探头，测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；　　2）球形镀金铜合金探针探头，测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻；　　3）配合四端子测试夹具，测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻；　　4）高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...

高温四探针电阻率测试系统

二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。...

双电测数字式四探针测试仪/双电测四探针检测仪

有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。...

KS L 1619-2013(2018) 中可能用到的仪器设备

干燥失重法(红外线/卤素)水分仪四探针测试仪电磁法仪器

KS L 1619-2013(2018)四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法