SJ 2154-1982
薄膜集成电路用微晶玻璃基片

Miorocrystal glass substrates for use in thick film integrated circuits

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标准号: SJ 2154-1982
发布日期: 1982年08月27日
实施日期: 1983年01月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: L57
国际标准分类号: 31.200
发布单位: CN-SJ

SJ 2154-1982 中可能用到的仪器设备

激光共聚焦显微镜吹扫捕集装置离子迁移谱介电常数测定仪导热仪、热导仪烟气排放连续监测系统CEMS/烟气分析仪

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