SJ 2215.13-1982
半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
2015-10
SJ 2215.13-1982 发布历史
SJ 2215.13-1982由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1982-11-30，并于 1983-07-01 实施。
SJ 2215.13-1982 在中国标准分类中归属于: L54 半导体光敏器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。
SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 SJ/T 2215-2015 。
SJ 2215.13-1982的历代版本如下：
- 2015年 SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
- 1982年 SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 于 2015-04-30 变更为 SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法。
SJ 2215.13-1982相似标准
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