KS D 2714-2021
扫描探针显微镜 侧向力显微镜方法

Scanning probe microscope-Method for lateral force microscope


KS D 2714-2021 发布历史

KS D 2714-2021由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 20210511,并于 20210511 实施。

KS D 2714-2021在国际标准分类中归属于: 77.120.30 铜和铜合金。

KS D 2714-2021 扫描探针显微镜 侧向力显微镜方法的最新版本是哪一版?

最新版本是 KS D 2714-2021

KS D 2714-2021的历代版本如下:

  • 2021年 KS D 2714-2021 扫描探针显微镜 侧向力显微镜方法
  • 2016年 KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
  • 2006年 KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法

 

标准号
KS D 2714-2021
发布
2021年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS D 2714-2021
 
 
引用标准
KS A ISO 5725-1,KS Q ISO/IEC 17025

KS D 2714-2021相似标准


推荐

从原理到应用,关于AFM你想了解的都在这里

扫描式穿隧显微镜问世以来,更有几十种类型的探针显微镜一直不断地被开发出来,以探针方式的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope, SPM)是个大家族,其中较熟识之技术如:扫描式穿隧显微镜(STM),近场光学显微镜(NSOM),磁力显微镜(MFM),化学力显微镜(CFM),扫描式热电探针显微镜(SThM),相位式探针显微镜(PDM),静电力显微镜(EFM)、侧向摩擦显微镜...

关于AFM的方方面面

扫描式穿隧显微镜问世以来,更有几十种类型的探针显微镜一直不断地被开发出来,以探针方式的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope, SPM)是个大家族,其中较熟识之技术如:扫描式穿隧显微镜(STM),近场光学显微镜(NSOM),磁力显微镜(MFM),化学力显微镜(CFM),扫描式热电探针显微镜(SThM),相位式探针显微镜(PDM),静电力显微镜(EFM)、侧向摩擦显微镜...

显微技术概述

扫描式穿隧显微镜问世以来,更有几十种类型的探针显微镜一直不断地被开发出来,以探针方式的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope, SPM)是个大家族,其中较熟识之技术如:扫描式穿隧显微镜(STM),近场光学显微镜(NSOM),磁力显微镜(MFM),化学力显微镜(CFM),扫描式热电探针显微镜(SThM),相位式探针显微镜(PDM),静电力显微镜(EFM)、侧向摩擦显微镜...

侧向显微镜

侧向显微镜(Lateral force Microscope, LFM)LFM 的作用方式主要是使探针与样品表面相接触并在表面上平移,利用探针移动时所承受样品表面摩擦以及样品表面高低起伏造成悬臂的偏斜量来探知样品的材质与表面特性。图6 的样品是在硅表面放置的单层Langmuir-Blod gett (LB)影片。它通过在每条扫描线(快速的扫描方向)从左到右扫描获得。...


KS D 2714-2021 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号