优点是分辨率高(近乎等同接触模式);可应用于柔软、易碎和粘附性样品;由于作用力是垂直的,材料表面受横向摩擦力、压缩力、剪切力的影响较小。...
STM分辨率:横向0.1nm,纵向0.01nm。AFM不但可测样品的表面形貌,达到接近原子分辨率,还可测量表面原子间的力,测量表面的弹性,塑性,硬度,粘着力,摩擦力等性质。图7 AFM的工作原理2.2 AFM工作模式在原子力显微镜成像模式中,根据针尖与样品间作用力的不同性质可分为:接触模式,非接触模式,轻敲模式。1) 接触成像模式:针尖在扫描过程中始终同样品表面接触。...
STM分辨率:横向0.1nm,纵向0.01nm。AFM不但可测样品的表面形貌,达到接近原子分辨率,还可测量表面原子间的力,测量表面的弹性,塑性,硬度,粘着力,摩擦力等性质。图7 AFM的工作原理2.2 AFM工作模式在原子力显微镜成像模式中,根据针尖与样品间作用力的不同性质可分为:接触模式,非接触模式,轻敲模式。1) 接触成像模式:针尖在扫描过程中始终同样品表面接触。...
就测量表面形貌而言,扫描隧道显微镜和原子力显微镜(AFM,Atomforcemicroscope)zui为人们熟悉和掌握。扫描探针显微测量方法是扫描测量,zui终给出的是整个被测区域上的表面形貌。SPM测量精度高,纵向及横向分辨率达原子量级,但是其测量范围较窄,同时操作较复杂。因此SPM常适合于测量结构单元在nm量级、测量区域为m量级的微结构。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号