SJ/T 10152-1991
集成电路主要工艺设备术语

Terms Relating to Main Equipment for Integrated Circuit Technologies


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SJ/T 10152-1991



标准号
SJ/T 10152-1991
发布日期
1991年04月02日
实施日期
1991年07月01日
废止日期
中国标准分类号
L97
国际标准分类号
31-550
发布单位
行业标准-电子
适用范围
本标准规定了半寻体集成电路制造工序主要生产设备的有关术语及定义。 本标准适用于半导体集成电路制造工序主要生产设备的研究、生产、使用、检验、教学和技术交流。

SJ/T 10152-1991 中可能用到的仪器设备

X射线衍射仪(XRD) 拉曼光谱仪 X射线散射仪 场流分离仪 X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设 体视显微镜/立体显微镜 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM 二次离子质谱/离子探针 电镜制样设备 石英晶体天平 椭偏仪 其它光谱仪 电镜附件及外设 其它光学测量仪 腐蚀测试仪 光学位移台 光谱部件及外设 光学平台 电化学部件 光源/氙灯光源/汞灯光源 白光干涉测厚仪 磁学测量系统 热老化试验箱 涂镀层及薄膜测厚仪 压汞仪 建筑材料无损检测仪器/设备 其它无损检测仪器/设备 其它物性测试仪器 化学吸附仪 离子溅射仪 微波合成装置 电子束刻蚀 洗瓶机、清洗机 等离子体表面处理仪 镀膜机 实验室研磨机/研磨仪/粉碎机/球磨机 真空泵 移液工作站/智能化样品处理平台/全自动稀释配标仪 等离子清洗器 化学合成仪 电生理设备 生物大分子相互作用仪 芯片扫描仪 超净工作台 单细胞分离分析/克隆筛选 数字切片扫描仪 培养仪器/培养箱 在线反应分析系统 分子束外延(MBE) 化学气相沉积(CVD) 原子层沉积系统(ALD) 薄膜应力测试仪 四探针测试仪 晶圆处理和测试 电磁法仪器 半导体专用检测仪器设备 原子层沉积系统(ALD) 教学仪器 IV测试仪 其他包装业专用 雾化仪 其它行业专用 化学/化工 信号采集处理 力学量测量仪表(位移、力等) 传感器/敏感元件 在机测量




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