SJ 1551-1979
硅外延层电阻率测试方法（电容-电压法）(暂行)
Method of measurement for resistivity of silicon epitaxial layer (capacitance-voltage method) (Provisional)
2010-02
- 标准号
- SJ 1551-1979
- 发布
- 1980年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ 1551-1979
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