本方法适用于大量制造的棒块状、粉末状标准样品或样品的均匀性检验。检验采用发射光谱分析技术。 本方法是以数据统计理论为基础而制定的。
SJ/Z 3206.9-1989由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1989-02-10,并于 1989-03-01 实施,于 2010-02-25 废止。
SJ/Z 3206.9-1989 在中国标准分类中归属于: L90 电子技术专用材料,在国际标准分类中归属于: 31-030 电子技术专用材料。
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