SJ 2065-1982
半导体器件生产用扩散炉测试方法

Testing method for diffusion furnace for semiconductor device manufacturing

半导体器件生产用扩散炉测试方法 是非强制性国家标准，您可以免费下载前三页

高级搜索

SJ 2065-1982 中，可能用到以下仪器

Brookfield博勒飞恒温水浴 TC系列

Brookfield博勒飞恒温水浴 TC系列

上海人和科学仪器有限公司

标准号: SJ 2065-1982
发布日期: 1982年02月18日
实施日期: 1982年07月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: L97
国际标准分类号: 31-550
发布单位: CN-SJ

SJ 2065-1982 中可能用到的仪器设备

水浴/油浴/恒温槽

Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号