SJ 2137-1982
硅稳流二极管测试方法.总则

General procedures of measurement for silicon current-regulator diodes

预览 SJ 2137-1982前三页
标准号
SJ 2137-1982
发布日期
1982年08月20日
实施日期
1983年01月01日
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
L41
国际标准分类号
31.080.10
发布单位
行业标准-电子

SJ 2137-1982相似标准

SJ 2139-1982 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法 SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法 SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法 SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法 SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法

推荐

标准 | 7项行业标准和3项国家标准正在报批公示

SJ/T 11180.4-2019音频和视听设备 数字音频部分 音频特性基本测量方法 第4部分:微型计算机本标准规定了台式和便携式两类微型计算机的音频部分的线性PCM信号测试方法.数字音频特性的通用测量条件和测量方法见SJ/T 11180.1《音频和视听设备 数字音频部分 音频特性基本测量方法 第1部分：总则》。IDT IEC 61606-4:20056. ...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号