SJ 2214.6-1982
半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
2015-10
- 标准号
- SJ 2214.6-1982
- 发布
- 1982年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 替代标准
- SJ/T 2214-2015
- 当前最新
- SJ/T 2214-2015
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