BS DD IEC/PAS 62483:2006
测量锡和锡合金表面光洁度上晶须生长的试验方法

Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes

被代替

BS DD IEC/PAS 62483:2006 发布历史

BS DD IEC/PAS 62483:2006由SCC 发布于 2007-02-28。

BS DD IEC/PAS 62483:2006 测量锡和锡合金表面光洁度上晶须生长的试验方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 BS IEC 62483:2013 。

BS DD IEC/PAS 62483:2006的历代版本如下：

• 2013年 BS IEC 62483:2013 半导体器件上锡及锡合金表面装饰的锡晶须敏感性的环境验收要求
• 2007年 BS DD IEC/PAS 62483:2006 测量锡和锡合金表面光洁度上晶须生长的试验方法

交叉参考：JESD22-A104 IPC 7530

标准号

BS DD IEC/PAS 62483:2006

发布

2007年

发布单位

SCC

替代标准

BS IEC 62483:2013

当前最新

BS IEC 62483:2013

 

 

BS DD IEC/PAS 62483:2006相似标准

推荐