BS DD IEC/PAS 62483:2006
测量锡和锡合金表面光洁度上晶须生长的试验方法

Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes

2013-10

标准号
BS DD IEC/PAS 62483:2006
发布
2007年
发布单位
SCC
替代标准
BS IEC 62483:2013
当前最新
BS IEC 62483:2013
 
 
适用范围
交叉参考：JESD22-A104 IPC 7530

BS DD IEC/PAS 62483:2006相似标准

PAS 62483-2006 测量锡和锡合金表面光洁度上晶须生长的试验方法（1.0 版） IEC PAS 62483:2006 测量锡和锡合金表面须晶生长的试验方法 JEDEC JESD22A121.01-2005 测量锡和锡合金表面须晶生长的试验方法 JEDEC JESD22A121A-2008 测量锡和锡合金表面装饰晶须生长的试验方法 IPC 4554 CHINESE 2007(2012) IPC 4554 CHINESE 2007(2012)

推荐

俄歇电子能谱仪的应用领域

而≥9%Cr的合金形成层状氧化物，即外层的气相与氧化物界面存在Fe2O3，内层是Fe3-xCrxO4,以及靠近基体合金的铬氧化物和金属铁。这说明添加Cr≥9%的合金大大推迟了氧化物的生长。扩散研究晶界扩散的方法有三种：溅射剖面法、沿晶断裂法和表面累积法。...

物相分析检测机构 物相研究分析报告

　   形貌观察与测量　　锡须观察与测量　　电子显微形貌观察与测量　　表面粗糙度分析　　金属间化合物观察与测量　　光学显微形貌观察与测量　　形貌观察与测量介绍　　表面所具有的微观几何形状统称为表面形貌。...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号