ASTM E1635-06(2019)
二次离子质谱(SIMS)中成像数据报告的标准实施规程

Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)


ASTM E1635-06(2019) 中,可能用到以下仪器

 

IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS

IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS

北京艾飞拓科技有限公司

 

ASTM E1635-06(2019)

标准号
ASTM E1635-06(2019)
发布
2019年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E1635-06(2019)
 
 
引用标准
ASTM E1504 ASTM E673
1.1 本实践列出了描述在获取和报告二次离子质谱 (SIMS) 生成的图像时使用的仪器、实验和数据缩减程序所需的最少信息。 1.2 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。 1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践,并在使用前确定监管限制的适用性。 1.4 本国...

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