ASTM E1635-06(2019)
二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
- 标准号
- ASTM E1635-06(2019)
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E1635-06(2019)
- 引用标准
- ASTM E1504 ASTM E673
- 适用范围
- 1.1 本实践列出了描述在获取和报告二次离子质谱 (SIMS) 生成的图像时使用的仪器、实验和数据缩减程序所需的最少信息。
1.2 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.4 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
ASTM E1635-06(2019)相似标准
推荐
二次离子质谱仪（SIMS）
5.分析方法参考标准 ASTM E1078-2009 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南 ASTM E1504-2011 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范 ASTM E1829-2009 先于表面分析的样品处置标准指南 ...
质谱应用沙龙：探索质谱极限助力生命健康研究
北京艾飞拓公司高聚宁总经理做"TOF-SIMS 在生命科学中的应用”的报告 SIMS可以分为静态二次离子质谱和动态二次离子质谱（dynamic SIMS）两种模式,不同的分析模式，对应不同的分析要求。飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是质谱成像的主要仪器之一，与MALDI-MS成像技术相比，二次离子质谱的最大特点是其高空间分辨率（探测深度...