ASTM E1635-06(2019)
二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
ASTM E1635-06(2019) 发布历史
ASTM E1635-06(2019)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2019-11-01。
ASTM E1635-06(2019)在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
ASTM E1635-06(2019) 发布之时，引用了标准
- ASTM E1504 次级离子质谱(SIMS)测定中质谱数据报告的标准规范
- ASTM E673 与表面分析相关的标准术语
ASTM E1635-06(2019)的历代版本如下：
- 2019年 ASTM E1635-06(2019) 二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
- 2006年 ASTM E1635-06(2011) 次级离子质谱法(SIMS)成像数据报告标准规程
- 2006年 ASTM E1635-06 报告次级离子质谱法(SIMS)成像数据用标准实施规程
- 1995年 ASTM E1635-95(2000) 二次离子质谱（SIMS）中成像数据报告的标准实施规程
1.1 本实践列出了描述在获取和报告二次离子质谱 (SIMS) 生成的图像时使用的仪器、实验和数据缩减程序所需的最少信息。
1.2 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.4 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
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