ISO 20263:2017
微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
说明：
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- 标准号
- ISO 20263:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 20263:2017
- 本文件规定了确定多层材料横截面图像中记录的两种不同层材料之间的平均界面位置的程序。 它并不是为了确定通过多层模拟（MSS）方法预期的多层材料的模拟界面。 本文件适用于使用透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）记录的多层材料的横截面图像以及使用能量色散X-记录的横截面元素映射图像。 射线光谱仪 (EDS) 或电子能量损失光谱仪 (EELS)。...
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