KS D ISO 19318-2020
表面化学分析 X射线光电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告

Surface chemical analysis-X-ray photoelectron spectroscopy-Reporting of methods used for charge control and charge correction


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS D ISO 19318-2020 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
KS D ISO 19318-2020
发布
2020年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS D ISO 19318-2020
 
 

KS D ISO 19318-2020相似标准


推荐

X射线光电子能谱( XPS)

XPS:X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试是物体表面10纳米左右物质价态元素含量,而EDS不能测价态,且测试深度为几十纳米到几微米,基本上只能定性分析,不好做定量分析表面的元素含量。 原理:用X射线去辐射样品,使原子或分子内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来电子称为光电子。...

​能谱仪EDS

X射线光电子能谱分析(XPS,X-ray photoelectron spectroscopy)测试是物体表面10纳米左右物质价态元素含量,而EDS不能测价态,且测试深度为几十纳米到几微米,基本上只能定性分析,不好做定量分析表面的元素含量。 ...

网络研讨会:Nexsa G2 X射线光电子能谱仪新产品技术交流会

XPS作为一种高效表面分析手段,不仅广泛应用于化学分析、材料应用开发、物理理论研究等学术领域,对于机械加工、印刷电路、镀膜材料工艺控制纳米功能材料开发等工业领域,也能提供全方位解决方案。随着表面分析技术拓展性逐渐增强,各类型材料对于XPS表征分析需求都日益增长。今年赛默飞世尔科技(中国)有限公司发布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2  X射线光电子能谱仪。...

表面分析(四)

俄歇电子能谱分析在机械工业中主要用于金属材料氧化、腐蚀、摩擦、磨损润滑特性等研究和合金元素及杂质元素扩散或偏析、表面处理工艺及复合材料粘结性等问题研究。X射线光电子能谱分析X射线光电子能谱分析,以一定能量X射线辐照气体分子或固体表面,发射出光电子动能与该电子原来所在能级有关,记录并分析这些光电子能量可得到元素种类、化学状态电荷分布等方面的信息。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号