ASTM D8136-17
使用非接触电容厚度计测定塑料膜厚度和厚度变化的标准测试方法
Standard Test Method for Determining Plastic Film Thickness and Thickness Variability Using a Non-Contact Capacitance Thickness Gauge
- 标准号
- ASTM D8136-17
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM D8136-17
- 引用标准
- ASTM D1505 ASTM D4805 ASTM D618 ASTM D6988 ASTM D883 ASTM E177 ASTM E252 ASTM E691 ISO 472
- 适用范围
- 1.1 本测试方法涵盖使用基于电容技术的非接触式测厚仪测定厚度范围为 2.5 至 250 µm 的塑料薄膜厚度。它包括一种生成一系列厚度数据点的方法，这些数据点可用于表征薄膜横向或纵向（剖面）的可变性模式。注 1：如果设备设计用于测量和处理此厚度范围的材料，并且设备符合本标准中定义的要求，则较厚的样品（通常为 250 µm 至 2500 µm 厚）可以使用此测试方法。
1.2 该测试方法为薄膜的买家和卖家提供了一种沟通他们所购买/销售的产品的厚度和厚度变化模式的方法。
1.3 本测试方法不适用于有纹理或多孔的薄膜或导电或涂有导电物质的薄膜。注 2——含有过量抗静电添加剂的薄膜可能具有导电性，需要进行测试以验证它们不会导致仪器出现负读数。
1.4 单位——以 SI 单位表示的值被视为标准。本标准不包含其他计量单位。注 3——目前尚无已知的与该标准等效的 ISO。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
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