IEC 60749-30:2020 RLV
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前非密封表面安装器件的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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标准号

IEC 60749-30:2020 RLV

发布

2020年

发布单位

国际电工委员会

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IEC 60749-30:2020 RLV

 

 

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