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经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。 温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。...
个人认为不能因此理解为大于这个速率的试验就是温度冲击试验。温度冲击试验的速率比这个现况要严苛。经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。...
环境应力筛选(Environment Stress Screen ,简称ESS)是鉴别和剔除产品工艺和元件引起的早期故障的一种工序和方法,主要通过向元器件以上各层次产品施加合理的环境应力和电应力,将其内部的潜在缺陷激发变成故障,并通过检验发现和排除故障的过程,是一种工艺手段,非破坏性试验。...
个人认为不能因此理解为大于这个速率的试验就是温度冲击试验。温度冲击试验的速率比这个情况要严苛。经常能听到说温度冲击的速率大于20度/min,30度/min,50度/分钟,甚至更快。温度变化原因有很多,相关标准里面都有提及:GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。...
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