KS C IEC 62047-22-2016
半导体器件 - 微机电装置 - 第18部分:薄膜材料弯曲试验方法

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials

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标准号: KS C IEC 62047-22-2016
发布: 2016年
发布单位: KR-KS
替代标准: KS C IEC 62047-22-2016(2021)
当前最新: KS C IEC 62047-22-2016(2021)

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