KS C IEC 62047-22-2016
半导体器件 - 微机电装置 - 第18部分:薄膜材料弯曲试验方法

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials


KS C IEC 62047-22-2016 发布历史

KS C IEC 62047-22-2016由KR-KS 发布于 2016-12-29。

KS C IEC 62047-22-2016在国际标准分类中归属于: 31.080.99 其他半导体分立器件。

KS C IEC 62047-22-2016的历代版本如下：

  • 0000年 KS C IEC 62047-22-2016(2021)
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标准号
KS C IEC 62047-22-2016
发布
2016年
发布单位
KR-KS
替代标准
KS C IEC 62047-22-2016(2021)
当前最新
KS C IEC 62047-22-2016(2021)
 
 

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