DIN EN IEC 60749-5:2024-04
半导体器件机械和气候测试方法 第5部分：稳态温度湿度偏置寿命测试（IEC 47/2770/CDV:2022）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2770/CDV:2022); German and English version prEN IEC 60749-5:2022

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标准号

DIN EN IEC 60749-5:2024-04

发布

2024年

发布单位

德国标准化学会

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