ANSI/IEEE Std 641-1987
金属氮化物氧化物半导体阵列的 IEEE 标准定义和表征
IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays
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- 标准号
- ANSI/IEEE Std 641-1987
- 发布
- 1988年
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 适用范围
- This standard has ten sections: an introduction to the MNOS device and memory array; symbols and definitions; references that contain added detail on specific concepts; MNOS arrays and functional operations; MNOS array retention; MNOS array endurance property; reliability considerations for MNOS arrays; the testing methodology necessary to establish the unique properties of the MNOS array for both...
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