ANSI/IEEE Std 641-1987

IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays


 

 

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标准号
ANSI/IEEE Std 641-1987
发布
1988年
发布单位
美国电气电子工程师学会
 
 
适用范围
This standard has ten sections: an introduction to the MNOS device and memory array; symbols and definitions; references that contain added detail on specific concepts; MNOS arrays and functional operations; MNOS array retention; MNOS array endurance property; reliability considerations for MNOS arrays; the testing methodology necessary to establish the unique properties of the MNOS array for both...

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