ANSI/IEEE Std 641-1987
金属氮化物氧化物半导体阵列的 IEEE 标准定义和表征
IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays
ANSI/IEEE Std 641-1987 发布历史
ANSI/IEEE Std 641-1987由美国电气电子工程师学会 US-IEEE 发布于 1988-04-19，并于 1988-04-19 实施。
ANSI/IEEE Std 641-1987 金属氮化物氧化物半导体阵列的 IEEE 标准定义和表征的最新版本是哪一版？
最新版本是 ANSI/IEEE Std 641-1987 。
ANSI/IEEE Std 641-1987的历代版本如下：
- 1988年 ANSI/IEEE Std 641-1987 金属氮化物氧化物半导体阵列的 IEEE 标准定义和表征
该标准有十个部分： MNOS 设备和内存阵列简介；符号和定义；包含特定概念的更多细节的参考文献； MNOS 数组和函数操作； MNOS 阵列保留； MNOS阵列耐久性属性； MNOS 阵列的可靠性考虑因素；建立 MNOS 阵列独特属性所需的测试方法...
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