CEI EN IEC 60749-30:2021
半导体器件 机械和气候测试方法 第30部分：可靠性测试前非密封表面贴装器件的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing


 

 

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标准号
CEI EN IEC 60749-30:2021
发布
2021年
发布单位
SCC
当前最新
CEI EN IEC 60749-30:2021
 
 

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