IPC TM-650 2.5.5.5C-1998
X 波段介电常数和损耗角正切（介电常数和耗散因数）的带状线测试

Stripline Test for Permittivity and Loss Tangent (Dielectric Constant and Dissipation Factor) at X-Band

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标准号

IPC TM-650 2.5.5.5C-1998

发布

1998年

发布单位

IPC - Association Connecting Electronics Industries

 

 

适用范围

摘要：该方法旨在快速测量 X 波段（8.00 至 12.40 GHz）表观相对带状线介电常数（参见 9.1）和金属包覆基板的损耗角正切。使用谐振元件图案卡@在带状线条件下进行测量，该谐振元件图案卡通过待测材料片与接地平面隔开。有关此方法的更多信息可在 ASTM D3380-75 中找到。定义： 此方法中使用的术语包括： 复数相对介电常数 相对介电常数和耗散因数的值被视为复数。介电常数 介电常数（参见 IPC-T-50）或相对介电常数。本文档中使用的符号是 er。有时使用 K' 或 k'。相对介电常数 电介质的绝对介电常数与真空的绝对介电常数的无量纲比率。损耗角正切 耗散因数（参见 IPC-T-50）@ 介电损耗角正切。本文件中使用的符号是 tan d（见 9.2）。局限性 应注意该方法的以下局限性。警告用户不要假设该方法产生直接对应于应用的介电常数和损耗角正切值。该方法的价值在于确保产品的一致性，从而确保制造电路板结果的可重复性。谐振器元件的测量有效介电常数可能与应用中观察到的不同。如果应用采用带状线，并且线宽到接地面的间距小于测试@中谐振器元件的线宽，则应用将在 X@Y 平面中表现出更大的电场分量。异质介电复合材料在某种程度上具有各向异性@，导致较窄的线观察到较高的er。应用中的微带线也可能与 X@Y 平面中衬底电场分量的分数的测试不同。粘合带状线组件在板之间排除了空气，因此往往会显示更大的 er 值。某些复合材料的高度各向异性会导致谐振元件@的耦合程度增加，从而导致 Q 值错误降低。如果未按照 7.2.2 中的数学方法进行校正，或者未通过偏离为测试图案指定的探头间隙进行校正，则会导致计算出的损耗角正切值出现向上偏差。由于谐振器图案卡仍然作为固定装置的一部分，同时构成测量中涉及的电介质的重要部分，因此该方法对样本的 er 差异的灵敏度受到损害。该方法不适用于使用可追溯到美国国家标准与技术研究所 (NIST) 的已知电特性的稳定裁判样本。

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