IPC TM-650 2.5.5.3C-1987
材料的介电常数（介电常数）和损耗正切（耗散因数）（双流体池法）

Permittivity (Dielectric Constant) and Loss Tangent (Dissipation Factor) of Materials (Two Fluid Cell Method)

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标准号

IPC TM-650 2.5.5.3C-1987

发布

1987年

发布单位

IPC - Association Connecting Electronics Industries

 

 

适用范围

目的：该方法适用于测定绝缘材料在 1 MHz 下的体积介电常数@（介电常数）和损耗角正切（耗散因数）。它不依赖于直接或间接测量样品厚度，因此对于薄膜和层压板，但也可用于厚度达约 6.35 mm [0.25""] 的样本。如果所用电桥的范围和精度足够，它可用于所有介电常数范围和低至 0.0005 的损耗角正切方法说明：双流体方法使用空气作为一种流体，使用合适的液体@通常为陶氏 200 1.0CS 硅液@作为第二种流体。使用空气的介电常数的既定值@流体的介电常数值和样品可以很容易地计算。在所有读数期间细胞间距是固定的，但不需要准确地知道所需的一系列读数。由于样本不需要应用任何电极，并且可以一次测量许多样本在不改变任何间距或机器设置的情况下@该方法不仅非常准确而且非常快速。该方法已用于测量 PTFE 和环氧玻璃层压板以及柔性薄膜@（例如聚酰亚胺）。只要采取最少的预防措施并且电桥精度合适，实验室之间的介电常数重现性就非常好。对于大多数材料@，湿度或温度的微小变化的影响大于该方法引起的任何误差。 PTFE 等稳定材料的实验室间相关性显示结果始终在 0.005 或 (0.2%) 以内。”

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