ASTM E3084-17
表征材料在非电离能量损失方面的粒子辐射的标准实践（NIEL）
Standard Practice for Characterizing Particle Irradiations of Materials in Terms of Non-Ionizing Energy Loss (NIEL)
ASTM E3084-17 发布历史
ASTM E3084-17由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2017-02-01。
ASTM E3084-17在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。
ASTM E3084-17 表征材料在非电离能量损失方面的粒子辐射的标准实践（NIEL）的最新版本是哪一版？
最新版本是 ASTM E3084-17(2022)e1 。
ASTM E3084-17 发布之时，引用了标准
- ASTM E170 有关辐射测量和剂量测定的标准术语
- ASTM E521 用带电粒子照射法模拟中子辐射损害的标准实施规程
- ASTM E693 根据每个原子(DPA)、E706(ID)位移辨别铁和低合金钢中子照射特性的标准实施规程
- ASTM E722 确定电子辐射强度试验用等效单能级中子注量的能级中中子能量注量能谱的特征
ASTM E3084-17的历代版本如下：
- 2022年 ASTM E3084-17(2022)e1 用非电离能量损失（NIEL）表征材料粒子辐照的标准实施规程
- 2017年 ASTM E3084-17 表征材料在非电离能量损失方面的粒子辐射的标准实践（NIEL）
1.1 本实践描述了用非电离能量损失（NIEL）来表征材料粒子辐照的程序。 NIEL 在已发表的文献中用于表征带电粒子和中性粒子辐照。
1.2 虽然本实践中描述的方法适用于位移横截面已知的任何粒子和目标材料（参见实践 E521），但本实践旨在用于观察到的损伤效应可能与原子位移相关的辐照。电子和光子材料中的某些（但不是全部）辐射效应确实如此。
1.3 与此类似的程序用于计算带电粒子辐照（见实践 E521）或中子辐照（见实践 E693）中的每原子位移（dpa）。
1.4 提供了 NIEL 计算 dpa 的指南。
1.5 与此相关的程序用于计算电子材料中的 1-MeV 等效中子注量（参见实践 E722），但在该实践中，包括基于观察到的损伤效应的相关性的损伤效率的概念。
1.6 提供了将硅中的 NIEL 转换为硅中的单能中子注量的指南（参见实践 E722），反之亦然。
1.7 本标准的应用需要了解相互作用导致位移损伤的粒子注量和能量分布。
1.8 辐射效应数据的相关性不属于本标准的范围。对硅中的位移损伤效应及其与 NIEL 的相关性的全面审查 (1)2 提供了适用于半导体材料和电子设备的适当指导。
- 标准号
- ASTM E3084-17
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E3084-17(2022)e1
- 当前最新
- ASTM E3084-17(2022)e1
- 引用标准
- ASTM E170 ASTM E521 ASTM E693 ASTM E722
ASTM E3084-17相似标准
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