ASTM E722-19
电子设备辐射硬度试验用等效单能中子注量表征中子注量谱的标准实施规程

Standard Practice for Characterizing Neutron Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics

标准号

ASTM E722-19

发布

2019年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E722-19

 

 

引用标准

ASTM E170 ASTM E265 ASTM E3084 ASTM E693 ASTM E720 ASTM E721 ASTM E844 ASTM E944

适用范围

1.1 本实践涵盖了用等效单能中子注量来表征源中子注量的程序。它适用于中子效应测试、测试规范的制定以及中子测试环境的表征。这些源可以具有宽的中子能量范围，或者可以是能量高达20MeV的单能中子源。这种做法不适用于位移损伤的主要来源是能量低于 10 keV 的中子的情况。相关等效性是指对源光谱所入射的材料的某些物理特性的特定影响。为了实现这一目标，需要了解中子作为能量函数对感兴趣材料的特定性质的影响。在单能源的情况下，中子能量效应的急剧变化可能会限制这种做法的有用性。
1.2 本实践以普遍适用于各种材料和来源的方式呈现。由不同粒子（电子、中子、质子和重离子）引起的位移 (1-3)2 之间的相关性超出了本实践的范围，但在实践 E3084 中得到了解决。在电子半导体器件的辐射硬度测试中，感兴趣的特定材料包括硅和砷化镓，中子源通常是测试和研究反应堆以及锎252辐照器。
1.3 所涉及的技术依赖于以下因素：(1) 详细确定中子源注量谱，以及 (2) 了解中子的退化（损坏）效应作为能量对特定材料特性的函数。
1.4 1.3 中提到的中子注量谱的详细测定不需要对每次试验暴露重新进行，只要暴露条件是可重复的。当不重复进行能谱测定时，每次试验暴露均应使用中子注量监测仪。
1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。除 MeV、keV、eV、MeV·mbarn、rad(Si)·cm2 和 rad(GaAs)·cm2 外，本标准中不包含其他测量单位。
1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.7 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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