BS EN IEC 63287-1:2021
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines - Guidelines for IC reliability qualification
BS EN IEC 63287-1:2021 发布历史
BS EN IEC 63287-1:2021由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2021-11-30，并于 2021-11-30 实施。
BS EN IEC 63287-1:2021在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
BS EN IEC 63287-1:2021的历代版本如下：
- 2021年 BS EN IEC 63287-1:2021
范围 IEC 63287的本部分给出了半导体集成电路产品可靠性鉴定计划的指南。 本文档不适用于军事和太空相关应用。 注 1：制造商可以通过基于 EDR-4708、AEC Q100、JESD47 或其他相关文件（如果有指定）的指南改编，使用灵活的样本量来降低成本并保持合理的可靠性。 注2：本文件中使用的威布尔分布方法是计算给定可靠性项目的适当样本量和测试条件的几种方法之一。
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