BS EN IEC 63287-1:2021
半导体器件 通用半导体鉴定指南 IC 可靠性鉴定指南
Semiconductor devices. Generic semiconductor qualification guidelines - Guidelines for IC reliability qualification
- 标准号
- BS EN IEC 63287-1:2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 63287-1:2021
- 适用范围
- 范围 IEC 63287的本部分给出了半导体集成电路产品可靠性鉴定计划的指南。 本文档不适用于军事和太空相关应用。 注 1：制造商可以通过基于 EDR-4708、AEC Q100、JESD47 或其他相关文件（如果有指定）的指南改编，使用灵活的样本量来降低成本并保持合理的可靠性。 注2：本文件中使用的威布尔分布方法是计算给定可靠性项目的适当样本量和测试条件的几种方法之一。
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