GB/T 14849.3-2020由国家质检总局 CN-GB 发布于 2020-03-06,并于 2021-02-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 14849.3-2020 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法,在国际标准分类中归属于: 77.040.30 金属材料化学分析。
GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 14849.3-2020 。
GB/T14849 的本部分规定了工业硅中钙含量的测定方法。本部分适用于工业硅中钙含量的测定,测定范围为:0.0050%~0.55%。
这3项标准分别是:GB/T 14849.4-2008《工业硅化学分析方法第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量》、GB/T 20975.25-2008《铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》、GB/T 21994.5-2008《氟化镁化学分析方法第5部分:钙含量的测定火焰原子吸收光谱法》。 ...
这3项标准分别是:GB/T 14849.4-2008《工业硅化学分析方法第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量》、GB/T 20975.25-2008《铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》、GB/T 21994.5-2008《氟化镁化学分析方法第5部分:钙含量的测定火焰原子吸收光谱法》。...
/02/2021GB/T 14849.3-2020工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定GB/T 14849.3-200701/02/2021GB/T 15076.11-2020钽铌化学分析方法 第11部分:铌中砷、锑、铅、锡和铋量的测定 直流电弧原子发射光谱法GB/T 15076.11-199401/02/2021GB/T 15076.4-2020钽铌化学分析方法 第4部分:铁量的测定 1,10...
为适应行业发展,国家有色金属标准化技术委员会于2010年制定了《GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X射线荧光光谱法》,分析工业硅中的Fe、Al、Ca。2014年在旧版的基础上,制定了《GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》,扩大了分析范围。...
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