KS C IEC 60749-16-2006(2021)
半导体器件机械和气候试验方法第16部分:颗粒碰撞噪声检测(PIND)

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 16:Particle impact noise detection(PIND)


KS C IEC 60749-16-2006(2021) 中,可能用到以下仪器设备

 

美国SD PIND颗粒碰撞噪声检测仪

美国SD PIND颗粒碰撞噪声检测仪

广州市科唯仪器有限公司

 

标准号
KS C IEC 60749-16-2006(2021)
发布
2006年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS C IEC 60749-16-2006(2021)
 
 

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