KS C IEC PAS 62162-2002(2017)
用于静电放电场感应带电装置模型试验方法承受微电子元件的阈值

Field－induced charged－device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

被代替

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标准号: KS C IEC PAS 62162-2002(2017)
发布: 2002年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C IEC PAS 62162-2002(2022)
当前最新: KS C IEC PAS 62162-2002(2022)

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