IPC TM-650 2.5.5.5B-1995
X 波段介电常数和损耗角正切（介电常数和耗散因数）的带状线测试

Stripline Test for Permittivity and Loss Tangent (Dielectric Constant and Dissipation Factor) at X-Band


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
IPC TM-650 2.5.5.5B-1995
发布
1995年
发布单位
IPC - Association Connecting Electronics Industries
 
 

IPC TM-650 2.5.5.5B-1995相似标准

IPC TM-650 2.5.5.5-1998 修订版C,在x波段,介电常数和损失正切(介电常数和耗散因子)的带状线测试 IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料的介电常数（介电常数）和损耗正切（耗散因数）（双流体池法） GB/T 12636-1990 A302 IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 绝缘材料在 1 MHz 时的介电常数（介电常数）和损耗角正切（耗散因数）（接触电极系统） T/CSTM 00751-2022 微波波段固态电介质材料介电性能测试 闭腔法

推荐

介电常数测试仪的原理及适用

　　 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质； 　　 通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。 　　 工作原理 　　 介电常数测试仪采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。 　　...

介电常数和介质损耗有什么区别

通常测量材料介电常数和介质损耗角正切的方法有二种：交流电桥法和Q表测量法，其中Q表测量法在测量时由于操作与计算比较简便而广泛采用。 　　...

介电常数测试仪概述

　　介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。...

介电常数测试仪-固定频点技术参数

频率范围：1.5GHz - 2.6GHz（名义的、受MUT性能的限制） 介电常数：ε′＜100， 损耗因数：0.001＜ε′′＜10， 损耗角正切tgδ＜ 0.1 精度：在介电常数约1-2%和介电损耗因子在2-5%（取决于范围） 微波功率：0 dBm 与电脑连接：USB连接    所需操作系统： Windows 7/8/10介电常数测试仪-固定频点...

IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 中可能用到的仪器设备

介电常数测定仪 其他试验机


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号