BS EN IEC 63287-2:2023
半导体器件 可靠性鉴定计划指南任务概况概念（英国标准）
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile (British Standard)
- 标准号
- BS EN IEC 63287-2:2023
- 发布单位
- 美国国家标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 63287-2:2023
- 引用标准
- IEC 63287-1:2021
- 适用范围
- IEC 63287 的这一部分提供了基于环境条件和产品建议使用情况、使用任务概况概念制定可靠性鉴定计划的指南。 本文档不适用于军事和太空相关应用。
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