IEC 63287-1:2021
半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
- 标准号
- IEC 63287-1:2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 63287-1:2021
- 代替标准
- IEC 60749-43:2017 IEC 47/2703/FDIS:2021
- 适用范围
- IEC 63287的这一部分给出了半导体集成电路产品可靠性鉴定计划的指南。本文档不适用于军事和太空相关应用。
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