NF C96-051*NF EN 62373:2006
金属氧化半导体场效应晶体管（MOSFET）的基本温度稳定性试验

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

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标准号

NF C96-051*NF EN 62373:2006

发布

2006年

发布单位

法国标准化协会

当前最新

NF C96-051*NF EN 62373:2006

 

 

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