IEEE Std 1149.7-2009
减少引脚和增强功能测试访问端口和边界扫描架构的 IEEE 标准
IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
2022-10
- 标准号
- IEEE Std 1149.7-2009
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 替代标准
- IEEE Std 1149.7-2022
- 当前最新
- IEEE Std 1149.7-2022
- 适用范围
- 本规范描述了可以添加到集成电路中以提供对 IEEE Std 1149.1?-2001 指定的片上测试访问端口 (TAP) 的访问的电路。该电路以 IEEE 1149.1-2001 作为基础，提供完全的向后兼容性，同时积极添加功能以支持测试和应用程序调试。它定义了六类 1149.7 测试访问端口（TAP...
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