半导体器件 第16-5部分:微波集成电路 振荡器2023/9/72024/1/121GB/T 15651.6-2023半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管2023/9/72024/4/122GB/T 4937.42-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存2023/5/232023/12/123GB/T 4937.23-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第23...
3 半导体集成电路典型筛选程序 高温储存— 温度循环— ( 跌落) — 离心— 高温功率老炼— 高温测试— 低温测试— 检漏— 外观检查— 常温测试。 ( 1 ) 高温储存: 8 5 ~1 7 5 ℃, 9 6小时。 ( 2 ) 离心:20000 g , 1 分钟 ( 3 ) 高温功率老炼: 8 5℃, 9 6 小时,在额定电压、额定负载下动态老炼。 ...
一提起环境试验箱,先了解一下“环境”与“试验箱”,“环境”由许多环境条件组成,指待测样品在特定时间内所经受的外部条件总和,可以是机械的、气候的、生物的,以及由于化学活性物质和机械活性物质产生的其他效应。 “试验箱”的定义是“能够达到规定的试验条件的某部分封闭体或空间”,来模拟所需要测试的环境因素参数及其相应的严酷程度。...
高温测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。常见的高温测试标准主要有GB国标、ASTM、IEC等,适用的产品种类非常多。高温测试是模拟产品在贮存、装配和使用过程中的耐高温状况而进行的可靠性试验,高温试验也是最长用的加速寿命测试。...
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